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南京ZA-320F中岸蓄電池內(nèi)阻儀校準裝置
我公司業(yè)生產(chǎn)銷售各種計量校準設(shè)備，詳細資料請聯(lián)系青島華能遠見電氣有限公司業(yè)務(wù)人員。
多數(shù)頻譜儀用戶都知道，測量高出頻譜儀顯示平均噪聲電平20dB以內(nèi)的信號都會受儀器本底噪聲的影響，而使得測量結(jié)果變差。頻譜儀測量的結(jié)果是RF輸入信號頻譜和儀器噪聲頻譜的疊加，是不是可以將頻譜儀本底噪聲測量出來，然后從頻譜儀每次測量結(jié)果中刪減掉本底噪聲呢？本底噪聲擴展是一種利用已知的儀器的本底噪聲提高測量精度的校正算法，就是一種將前端的本底噪聲減掉，只分析和顯示輸入信號的功率電平的測量方法，不僅可以提高測量精度，也可以擴展動態(tài)范圍。瑞利散射是光纖材料本身固有的性質(zhì)，由于光纖內(nèi)部含有的雜質(zhì)、纖核添加物等產(chǎn)生漫反射，其中部分向后散射形成瑞利背向散射，光纖整個長度上都呈現(xiàn)這種現(xiàn)象。而菲涅爾反射它只是發(fā)生在光纖接觸到空氣時或發(fā)生在諸如機械的連接接縫處。光纖損耗的測量所依據(jù)的主要是瑞利散射原理;光纖斷點的測量所依據(jù)的主要原理是菲涅爾反射。瑞利散射損耗可用下式進行近似計算：式中，λ以um為單位，B是與石英和摻雜材料有關(guān)的常數(shù)。
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