欽州導(dǎo)桿壓降測試儀陽極澆鑄質(zhì)量檢測儀ZA-500T中銳使用方法

更新時間：2024-02-22 10:22:01 瀏覽數(shù)：62
所屬行業(yè)：儀表儀器>實(shí)驗(yàn)儀器裝置>其他實(shí)驗(yàn)儀器裝置
發(fā)貨地址：青島
產(chǎn)品型號：ZA
供應(yīng)數(shù)量：99臺
包裝說明：鋁合金箱
單價：200.00元/臺

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產(chǎn)品詳情

< align="left" style="margin-to:0x;margin-bottom:0x;-webkit-ta-highlight-color:rgba(0, 0, 0, 0);box-sizing:border-box;adding:0x;color:#333333;background-color:#FFFFFF;font-family:null;"> ZA-500T電解槽鐵碳壓降測試儀
導(dǎo)桿壓降測試儀是一種用于測量導(dǎo)桿在特定電壓下的電阻和壓降的儀器。它采用先進(jìn)的電子，度高，操作簡便，是電力、電子、電器制造、科研開發(fā)等行業(yè)中必備的測試工具。該儀器可廣泛應(yīng)用于導(dǎo)桿的選型、生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制以及老化測試等環(huán)節(jié)。使用導(dǎo)桿壓降測試儀，可以確保設(shè)備的正常運(yùn)行，提高生產(chǎn)效率，降低安全風(fēng)險。在電解鋁生產(chǎn)行業(yè)，電解槽壓降是關(guān)系能耗的一個重要指標(biāo)，通過了解壓降知道電解槽的質(zhì)量，
我公司針對這種情況研發(fā)生產(chǎn)電解槽壓降測試儀，可以檢測電解槽陽極導(dǎo)桿壓降
可根據(jù)測試電壓來反應(yīng)陽極導(dǎo)桿上電流情況，鐵碳模塊(陽極炭塊、陰極炭塊)及鋼棒頭
焊接的組裝質(zhì)量,以便篩查選用合格的鐵碳模塊，為電解鋁企業(yè)節(jié)省大量的電費(fèi)。同時根據(jù)測量數(shù)
據(jù)對不合格的電解槽進(jìn)行處理。半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造，晶圓測試，芯片封裝和封裝后測試組成，晶圓制造和芯片封裝討論較多，而測試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識經(jīng)常被邊緣化，下面集中介紹集成電路芯片測試的相關(guān)內(nèi)容，主要集中在WAT，CP和FT三個環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計、制造、封裝流程示意圖WAT（WaferAccetanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數(shù)來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據(jù)，測試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機(jī)臺上，由WATRecie自動控制測試位置和內(nèi)容，測完某條TestKey后，ProbeCard會自動移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。設(shè)備具有數(shù)據(jù)存儲、導(dǎo)出功能，降低工人勞動強(qiáng)度，提率。
二、性能特點(diǎn)
1、設(shè)備電流大精精度高，一鍵式操作，自動化程度高。
2、采用電子式原理線路結(jié)合DSP采用大屏幕漢字液晶顯示，所有操作均由漢字菜單提示。
3、數(shù)據(jù)具備掉電存貯及瀏覽功能，能與計算機(jī)聯(lián)機(jī)傳送數(shù)據(jù)
3、數(shù)據(jù)記錄、查詢、刪除功能：設(shè)備具備測試數(shù)據(jù)存儲記錄，對歷史數(shù)據(jù)可查閱；
4、數(shù)據(jù)導(dǎo)出功能：儀表通過數(shù)據(jù)線連接到電腦上，進(jìn)行數(shù)據(jù)儲存、編譯；
5、具有優(yōu)異的扛電磁干擾性能，在電解槽強(qiáng)磁干擾的工作環(huán)境中，依然保證儀器的精度。
三、參數(shù)
1、量程：0-1000mv 分辨率：0.01mv&nbs; 精度：0.5﹪，
2、電流：0-200000A（客戶選定）
3、顯示:10寸彩色液晶屏
TI提供行業(yè)款也是一款規(guī)模量產(chǎn)的單芯片CMOS毫米波傳感器。傳統(tǒng)汽車?yán)走_(dá)系統(tǒng)的局限性已經(jīng)眾所周知，傳統(tǒng)雷達(dá)缺乏分辨率，無法分辨附近的物體。此外，雷達(dá)系統(tǒng)還常常發(fā)出報，并且它們始終無法足夠快地處理信息，以滿足高速應(yīng)用。不過，汽車也認(rèn)識到雷達(dá)的優(yōu)點(diǎn)，尤其是它們能夠在各種天氣條件下工作的優(yōu)勢。他們認(rèn)為雷達(dá)可以和視覺傳感器一起協(xié)作，作為高度自動化車輛中的關(guān)鍵傳感。人們已經(jīng)充分了解了雷達(dá)系統(tǒng)的優(yōu)勢和劣勢，那么問題來了，雷達(dá)該往什么方向發(fā)展呢？TexasInstruments（TI，德州儀器）希望用基于其標(biāo)準(zhǔn)芯片來回答這個問題。不需要“先進(jìn)”數(shù)字測試性能；但對于測試靈活性和功能的需求較大的情況，高速數(shù)字模塊則尤其重要。測試系統(tǒng)和相關(guān)的數(shù)字子系統(tǒng)可以支持傳統(tǒng)和當(dāng)代電子組件組合的測試，因?yàn)檫@種測試系統(tǒng)被廣泛用于現(xiàn)場服務(wù)產(chǎn)品以及在工廠中測試新代產(chǎn)品。更具體地說，現(xiàn)場部署的測試系統(tǒng)（中所示的VIPER/T）具有尺寸和功耗的附加限制—要求系統(tǒng)具有便攜式，并且具有高可靠性。：VIPER/T測試系統(tǒng)數(shù)字子系統(tǒng)相關(guān)的功能包括：支持至少50MHz的矢量速率，每個引腳的時序，多個時間集和靈活的定序器。
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